Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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Sensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm

Sensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm

Bojiong , un fornitore leader di sensori di fronte d'onda ad alta risoluzione in Cina, si è specializzato nella misurazione interferometrica per molti anni. Sfruttando una profonda competenza tecnica e servizi di prodotto eccezionali, abbiamo guadagnato un ampio riconoscimento in tutto il settore. Il nostro sensore di fronte d'onda ad altissima risoluzione FIS4 è personalizzato con precisione, consentendo soluzioni su misura complete per soddisfare le diverse esigenze dei clienti. Rimaniamo impegnati in un approccio incentrato sul cliente, coinvolgendo profondamente con ciascun cliente per comprendere le loro esigenze specifiche. Il nostro team locale di esperti tecnici, dotato di solide conoscenze professionali e una vasta esperienza pratica, fornisce un supporto tecnico 7x24 ore per affrontare prontamente le tue richieste. Ottimizzando tutti i processi operativi, affrontiamo direttamente le preoccupazioni sui costi, fornendo prodotti e servizi di alto valore che migliorano la tua competitività del mercato. Yucheng non vede l'ora di collaborare con te e diventare il tuo partner d'affari a lungo termine di fiducia in Cina.

Sensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm 

Il bojiong Sensore FIS4 Wavefront 400-900NM Utilizza innovativi a quattro wavE tecnologia di interferometria a taglio laterale. Con una densità ultra-alta di 512 × 512 (oltre 260.000) punti di rilevamento di fase, raggiunge la risoluzione del fronte d'onda a livello di nanometro. IL Sensore di fronte d'onda Mantiene l'accuratezza della misurazione di 2 nm RMS in ambienti standard senza isolamento delle vibrazioni e uscite una suite completa di specifiche ottiche, inclusi coefficienti Zernike, PSF e MTF, a piena risoluzione a 5 fotogrammi al secondo. Sfruttando un algoritmo di soluzione a codifica casuale e adattata a livello nazionale, opera stabilmente in ambienti industriali complessi, compresi quelli caratterizzati da vibrazioni e fluttuazioni di temperatura. Fornisce una soluzione di misurazione del fronte d'onda altamente affidabile per la produzione ultra-precisione, l'assemblaggio del sistema optoelettronico e la ricerca scientifica all'avanguardia.

 

BojiongSensore FIS4 Wavefront 400-900NM Introduziuno

ILSensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm è lo strumento di misurazione ottico di punta di prossima generazione della nostra azienda. Tiene la certificazione del sistema di gestione della qualità ISO 9001 ed è rintracciabile al China National Institute of Metrology (NIM). Viene fornito con ununo-A garanzia. Questo sensore utilizza un sistema ottico interferometro per il percorso comune proprietario e l'architettura della soluzione di fronte d'onda in tempo reale, eliminando la necessità di specchi di spostamento o di riferimento di fase. Può ottenere misurazioni stabili 512 × 512 a risoluzione ad alta risoluzione anche in ambienti ad alta vibrazione.

Con la sua precisione ultra-alta 2 nm RMS, ≥160 μm di ampia gamma dinamica e 5 cornici/seconda capacità di uscita in tempo reale a tutto parametro, ilSensore FIS4 Wavefrontpuò catturare accuratamente i dettagli del fronte d'onda transitorio e le aberrazioni di alto ordine. È ampiamente applicabile a campi come la diagnosi di raggio laser, l'ispezione della superficie in forma libera, l'ottica adattiva e la produzione ultra-precisione. Raggiunge davvero la "misurazione di avvio senza isolamento delle vibrazioni", migliorando notevolmente l'efficienza e l'affidabilità dell'ispezione ottica ad alta precisione.

 

BojiongSensore FIS4 Wavefront 400-900NM Parametro (specifica)

Sorgente luminosa

Laser continuo, laser pulsato, LED, lampada alogena e altre fonti di luce ad ampio spettro

Intervallo di lunghezze d'onda

400 ~ 900nm

Dimensione target

13,3 × 13.3

Risoluzione spaziale

26 mm

Risoluzione dell'uscita di fase

512 × 512

Precisione assoluta

15nmrms

Risoluzione di fase

≤2nmrms

Gamma dinamica

≥160μm

Tasso di campionamento

40 fps

Velocità di elaborazione in tempo reale

5Hza piena risoluziuno

Tipo di interfaccia

USB3.0

Misurare

70x46.5x68.5

Peso

Circa 240 g

Metodo di raffreddamento

Nuno

 

BojiongSensore FIS4 Wavefront 400-900NM Funzione e applicaziuno

Dal 2006Il team del Professor Yang Yongying dell'Università di Zhejiang ha lanciato la serie FIS4 ad ampio spettroSensori del fronte d'onda Dopo 17 anni di ricerca e sviluppo, utilizzando gli algoritmi di ricostruzione del fronte d'onda in tempo reale e per il fronte d'onda in tempo reale.

· La progettazione del percorso ottico singolo elimina la necessità di luce di riferimento, consentendo il funzionamento plug-and-play.

· Il rilevamento in tempo reale dei dati sul fronte d'onda è possibile senza la necessità di una vibraziuno

piattaforma di isolamento.

· La sensibilità può raggiungere RMS di 2 nm.

· La risoluzione raggiunge 512 × 512.

· La dimensione ha solo la dimensione di un pugno.

 QuestoSensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm è specificamente sviluppato per aiutare la ricerca scientifica e gli scenari industriali ad alta precisione. La sua risoluzione ultra-alta può rilevare più dettagli sul fronte d'onda dell'oggetto in prova. Presenta una risoluzione ultra-alta di 512 × 512 (262.144) punti di fase, una risposta spettrale ampia di 400-900 nm e un display 3D in tempo reale a risoluzione a 5 frame a 5 frame. Fornisce uno strumento di misurazione del rilevamento del fronte d'onda ideale per il rilevamento del fronte d'onda del raggio laser, ottica adattiva, misurazione della superficie piana, calibrazione del sistema ottico, rilevamento della finestra ottica, misurazione ottica della superficie sferica, rilevamento della rugosità superficiale e micro-protezione superficiale.

 

Bojiong Sensore FIS4 Wavefront 400-900NM Applicaziuno

Rilevamento del fronte d'onda del raggio laser

Misurazione ottica della forma della superficie planare

Misurazione ottica della forma della superficie sferica

Misurazione dell'aberrazione dei sistemi ottici

Rilevamento ottico della finestra

Misurazione della distribuzione reticolare all'interno del materiale

Risposta di rilevamento del fronte d'onda della modalità Zernike

 

 

BojiongSensore FIS4 Wavefront 400-900NM Dettagli

 

ILSensore Fis4 Ultra-High-Resolutionfrontfront 400-900nm Utilizza la tecnologia di diffrazione brevettata, sviluppata indipendentemente, codificata in modo casuale a quattro onde, raggiungendo l'interferenza personale del fronte d'onda misurato utilizzando una sorgente di luce a percorso singolo. Questo processo di interferenza si verifica nel piano dell'immagine posteriore. Questa tecnologia riduce in modo significativo i requisiti per la coerenza della fonte di luce, eliminando la necessità di eventuali cambi di fase e consentendo misurazioni interferometriche ad alta precisione con sistemi di imaging convenzionali. Il prodotto mostra una resistenza eccezionale alle vibrazioni ambientali e alla stabilità operativa ultra-alta, raggiungendo l'accuratezza della misurazione a livello di nanometro senza la necessità di una base di isolamento delle vibrazioni. Rispetto ai tradizionali sensori di Hartmann Array MicroLens, FIS4 offre vantaggi significativi: acquisizione di punti di fase ad alta densità, intervallo di risposta spettrale più ampia e un intervallo di misurazione dinamica maggiore, il tutto offrendo al contempo una performance complessiva superiore. Con la sua innovativa architettura tecnica, il FIS4Sensore di fronte d'onda Ridefinisce lo standard per la misurazione ottica ad alta precisione, fornendo una soluzione avanzata più affidabile ed economica per la ricerca scientifica e i test industriali.

 

Fig.1. Principio di imaging in fase basato sull'interferenza di taglio laterale a quattro onde usando la griglia ibrida codificata casualmente (REHG)

 

Fig.2.Lest ricostruzione del fronte d'onda quadrata dall'interferogramma di taglio laterale a quattro onde

 

ILSensore FIS4 Wavefront, con il suo design compatto, dimostra una grande comodità se integrato con i sistemi di microscopia esistenti, consentendo un facile adattamento e un funzionamento collaborativo. Nel frattempo, possiede un'eccellente robustezza e anche in ambienti relativamente difficili come ad alta vibrazione, può comunque mantenere accuratamente la sensibilità alle interferenze, garantendo l'accuratezza e l'affidabilità dei dati di misurazione.

Vale la pena ricordare che il sensore FIS4 Wavefront supporta la misurazione singola-shot, una funzionalità che gli consente di acquisire efficienti processi dinamici rapidi e fornire un forte supporto di dati per la ricerca pertinente.

Nel campo della ricerca biomedica, ilSensore FIS4 Wavefrontha applicazioni ampie e importanti. Può raggiungere l'imaging privo di etichette, ad alta risoluzione e in tempo reale di varie cellule viventi come cellule COS-7, HT1080, cellule RPE, cellule CHO, cellule HEK e neuroni, fornendo dati di imaging chiari e preziosi per la ricerca approfondita su meccanismi fisiologici a livello cellulare e altri studi.Sensore FIS4 WavefrontSi esibisce anche in modo eccellente, fornendo un forte contrasto per visualizzare chiaramente i tessuti anisotropi e le strutture subcellulari, come fibre di collagene e citoscheletri, aiutando i ricercatori a osservare meglio e analizzare i tratti strutturali microscopici.

Non solo, questa tecnologia è stata ulteriormente estesa al campo dell'imaging di fase nelle regioni a raggi X, a infrarossi a lunghezza d'onda (MWIR) e a lunghezza d'onda (LWIR), dimostrando pienamente il suo grande potenziale nelle applicazioni interdisciplinari e aprindo nuove idee e metodi per la ricerca incrociata multidisciplinare.

Inoltre, in studi recenti, la tecnologia di rilevamento del fronte d'onda delSensore FIS4 Wavefrontè stato anche ampiamente utilizzato nella caratterizzazione di metasurre e materiali bidimensionali, che evidenzia senza dubbio i suoi numerosi valori pratici e il potenziale significato importante nei settori dell'ottica e della scienza dei materiali e fornisce un potente mezzi tecnici per l'ulteriore sviluppo dei campi correlati.




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