FIS4 Sensore di fronte d'onda a infrarossi vicino (versione refrigerata) 900-1200NM

Sensore Wavefront FIS4 vicino a infrarossi (versione refrigerata) 900-1200nm

ILBojiong Sensore FIS4 NIR-C Wavefront 900-1200NMè progettato per esigenti applicazioni ottiche a infrarossi. Integra un sistema di raffreddamento a semiconduttore ad alta precisione sul sensore del fronte d'onda del vicino infrarosso FIS4. Ciò stabilizza attivamente la temperatura del rilevatore del nucleo inferiore a -10 ° C ambientale, sopprimendo significativamente la corrente scura e il rumore termico e ottenendo una stabilità di misurazione ultra -alta di 2 nm di RMS. Coprendo la banda del vicino infrarosso da 900–1200 nm, il sensore vanta una risoluzione spaziale 512 × 512 altissima e una vasta gamma dinamica di ≥260 μm, consentendo un'analisi chiara della distorsione del fronte d'onda e della distribuzione di fase dei laser ad alta potenza, dei dispositivi metasurface e dei dispositivi di metasuper e della semiconturistica.

Bojiong FIIS4 NIR-C Sensore di fronte d'onda900-1200nm Introduzione

ILBojiong FIS4 Sensore di fronte d'onda a infrarossi vicino (versione refrigerata) 900-1200NMè la nuova generazione della nostra azienda di apparecchiature di ispezione ottica ad alta precisione, con eccellenti resistenza alle vibrazioni e capacità di misurazione del fronte d'onda in tempo reale. Il sensore FIS4 NIR-C Wavefront aderisce al rigoroso sistema di gestione della qualità ISO 9001 ed è certificato dal China Institute of Metrology (NIM). Viene fornito con una garanzia di un anno. Il sensore FIS4 NIR-C Wavefront utilizza una progettazione ottica interferometrica per il percorso comune e un algoritmo di ricostruzione del fronte d'onda in tempo reale per ottenere una misurazione del fronte d'onda ad alta precisione senza spostamento di fase, rendendolo adatto a una varietà di richieste scientifiche e applicazioni industriali.

Bojiong Sensore FIS4 NIR-C Wavefront 900-1200NM Parametro (specifica)

Bojiong Sensore FIS4 NIR-C Wavefront 900-1200NM Funzione e applicazione

Dal 2006, il team del Professor Yang Yongying dell'Università di Zhejiang ha sviluppato con successo il sensore di fronte Wavefront della serie FIS4 ad ampio spettro, basato su una struttura interferometrica per il percorso comune e sugli algoritmi di ricostruzione del fronte d'onda in tempo reale. Dopo 17 anni di ricerche continue, questo prodotto offre i seguenti vantaggi chiave:

· Eccellente resistenza alle vibrazioni, nessuna piattaforma di isolamento delle vibrazioni richiesto;

· Sensibilità a livello di nanometro, con sensibilità alla misurazione del fronte d'onda che raggiunge fino a 2 nm RMS;

· Progettazione integrata del percorso singolo-ottico, utilizzando in modo innovativo una struttura per il percorso singolo-ottico, non è necessario un percorso ottico di riferimento;

· Operazione intuitiva;

· Compatto e portatile, facile da trasportare, adatto a varie integrazioni e applicazioni in loco

ILFIS4 Sensore di fronte d'onda a infrarossi vicino (versione refrigerata) 900-1200NMè progettato per l'ispezione ottica e la misurazione ottiche ad alta precisione, adatti per l'ispezione industriale, la ricerca scientifica e le applicazioni di difesa. Con un'alta risoluzione di 512 × 512 (262.144) punti di fase, il sensore raggiunge la misurazione del fronte d'onda ad alta precisione in un ampio intervallo spettrale di 900-1200 nm e supporta la visualizzazione 3D in tempo reale a 10 fotogrammi al secondo a piena risoluzione. Le applicazioni tipiche includono analisi di aberrazione del sistema ottico, calibrazione ottica, rilevamento della distribuzione del reticolo interno del materiale, caratterizzazione del fronte d'onda Metasurface e Metalens, ecc., Fornire strumenti affidabili per la misurazione ottica di fascia alta.

Bojiong Sensore FIS4 NIR-C Wavefront 900-1200NM  Applicazione

Bojiong Sensore FIS4 NIR-C Wavefront 900-1200NM Dettagli

ILFIS4 Sensore di fronte d'onda a infrarossi vicino (versione refrigerata) 900-1200NMUtilizza la tecnologia di diffrazione a quattro onde codificata casuale brevettata, sfruttando una sorgente di luce a percorso singolo per ottenere l'interferenza di sé del fronte d'onda misurato, con interferenze che si verificano sul piano dell'immagine posteriore. Questa tecnologia riduce significativamente la dipendenza dalla coerenza della fonte di luce, eliminando la necessità di un cambio di fase e consentendo l'interferometria ad alta precisione se combinata con un sistema di imaging standard. Rispetto ai tradizionali sensori di Hartmann basati su array di microlens, il sensore FIS4 NIR-C Wavefront supera gli interferometri tradizionali a doppio raggio, offrendo significativi vantaggi di prestazioni in più aree: punti di fase di fase più ampia, adattabilità alla banda operativa più ampia.

Fig.1. Principio di imaging in fase basato sull'interferenza di taglio laterale a quattro onde usando la griglia ibrida codificata casualmente (REHG)

Fig.2.Lest ricostruzione del fronte d'onda quadrata dall'interferogramma di taglio laterale a quattro onde

ILSensore FIS4 Wavefrontè uno strumento eccellente nei settori della ricerca scientifica e dell'ispezione industriale. Combina abilmente molti vantaggi come la compattezza, l'elevata stabilità, l'eccellente risoluzione temporale e la buona compatibilità del sistema, rendendolo uno strumento fondamentale nei campi correlati.

In termini di applicazioni, la sua storia di sviluppo testimonia la sua forte adattabilità e scalabilità. Inizialmente, ilSensore FIS4 Wavefrontè stato utilizzato principalmente per le attività di ispezione di base nei seminari ottici. Ad esempio, nell'analisi della qualità dei componenti ottici, può valutare accuratamente se la qualità dei componenti soddisfa gli standard, sfruttando le sue capacità di rilevamento ad alta precisione. Nella diagnosi del raggio laser, può analizzare meticolosamente vari parametri del raggio laser, fornendo una base affidabile per la successiva ottimizzazione e regolazione. Inoltre, nel campo del controllo ottico adattivo, svolge anche un ruolo fondamentale, facilitando un controllo ottico preciso.

Al giorno d'oggi, l'ambito dell'applicazione delSensore FIS4 Wavefrontè stato ampiamente esteso. Nel campo dell'imaging a microscopia biologica, consente ai ricercatori di osservare più chiaramente le microstrutture biologiche. Nel monitoraggio delle nanoparticelle, può tracciare con precisione la traiettoria del movimento e altre informazioni chiave delle nanoparticelle. Nel lavoro di misurazione di Metasurface, fornisce dati di misurazione accurati, facilitando una ricerca approfondita. In vari campi come la caratterizzazione termodinamica, dimostra anche un valore indispensabile.

Dal punto di vista delle caratteristiche strutturali, ilSensore FIS4 WavefrontVanta un design compatto e squisito, consentendo che sia facilmente integrato nei sistemi di microscopio esistenti e ampliando significativamente i suoi scenari di applicazione. Inoltre, possiede eccellenti capacità anti-vibrazioni, garantendo l'accuratezza della misurazione anche in ambienti esterni duri. Ciò garantisce che i risultati del rilevamento non siano influenzati dall'interferenza esterna, fornendo stabilità e affidabilità.

Vale la pena ricordare che la funzione di imaging a un'esposizione singola delSensore FIS4 Wavefrontè altamente vantaggioso, soprattutto per la registrazione di processi dinamici rapidi. Nel campo della ricerca biomedica, con questa funzione, ha raggiunto con successo l'osservazione in tempo reale senza etichetta, ad alta risoluzione di varie cellule viventi come COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK e neuroni, fornendo un potente strumento di osservazione per la ricerca biomedica.

Inoltre, questo sensore supporta l'imaging di ritardo di fase ad alto contrasto, che consente la chiara visualizzazione di strutture anisotropiche come fibre di collagene e citoscheletri, fornendo una chiara base di immagine per la ricerca approfondita sulle relative strutture biologiche. Inoltre, la sua gamma di applicazioni è stata ulteriormente ampliata all'imaging di fase nelle bande di lunghezza d'onda a raggi X, infrarossi a medio infrarosso, dimostrando un valore significativo nell'analisi di metasurfacce e materiali bidimensionali e guidando efficacemente i progressi della ricerca in questi campi di frontiera.