L'analizzatore del fronte d'onda ad altissima risoluzione vanta un'eccellente resistenza alle vibrazioni, garantendo misurazioni affidabili anche senza l'uso di una piattaforma di isolamento dalle vibrazioni. Raggiunge una precisione a livello nanometrico nei dati. Eccelle nell'analisi dei microprofili superficiali, con un'altissima risoluzione di 512×512, pari a 262.144 punti di fase, garantendo una copertura completa per analisi dettagliate. La sua ampia gamma di risposta spettrale da 400 a 1100 nanometri lo rende adatto a varie sorgenti luminose. Inoltre, offre la visualizzazione dei risultati 3D a piena risoluzione in tempo reale a una velocità di 10 fotogrammi al secondo, fornendo una visualizzazione dinamica e immediata dei dati del fronte d'onda. Ciò lo rende una soluzione completa per le esigenze di rilevamento e misurazione del fronte d'onda.
Nome del prodotto |
Analizzatore del fronte d'onda ad altissima risoluzione |
Gamma di lunghezze d'onda |
400nm~1100nm |
Dimensione obiettivo |
7,07 mm×7,07 mm |
Risoluzione spaziale |
23,6μm |
Risoluzione del campionamento |
2048×2048 |
Risoluzione di fase |
300×300(90000pixel) |
Precisione assoluta |
<2nmRMS |
Gamma dinamica |
10 nm RMS |
Frequenza di campionamento |
110μm(150lm) |
Velocità di elaborazione in tempo reale |
24 fps |
Tipo di interfaccia |
10 Hz(A piena risoluzione) |
Dimensione |
TAGLIO |
Peso |
56,5 mm×43 mm×41,5 mm |
Gamma di lunghezze d'onda |
circa 120 g |
◆Risoluzione ultraelevata di punti di fase 512×512 (262144)
◆Banda ad ampio spettro da 400 nm a 1100 nm
◆Auto-interferenza della luce a canale singolo, nessuna luce di riferimento richiesta
◆Risoluzione di fase elevata RMS di 2 nm
◆Proprio come l'imaging, costruzione del percorso ottico facile e veloce
◆resistenza alle vibrazioni ultraelevata, nessuna necessità di isolamento ottico delle vibrazioni
◆Supporta fasci collimati e fasci convergenti NA di grandi dimensioni
Questo BOJIONG analizzatore del fronte d'onda ad altissima risoluzione utilizzato nel rilevamento del fronte d'onda del raggio laser, nell'ottica adattiva, nella misurazione della forma della superficie, nella calibrazione del sistema ottico, nel rilevamento della finestra ottica, nel piano ottico, nella misurazione della forma della superficie sferica, nel rilevamento della rugosità superficiale.
rilevamento del fronte d'onda del raggio laser |
Misurazione ottica della forma di una superficie planare |
Misurazione ottica della forma di una superficie sferica |
Misura dell'aberrazione dei sistemi ottici |
Rilevamento ottico dei pezzi della finestra |
Misura della distribuzione del reticolo all'interno del materiale |
Ottica adattiva: risposta al rilevamento del fronte d'onda in modalità Zernike |
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BOJIONG Analizzatore del fronte d'onda ad altissima risoluzione sviluppato da un team di professori dell'Università di Zhejiang e dell'Università Tecnologica di Nanyang di Singapore, con tecnologia brevettata nazionale, combina diffrazione e interferenza per ottenere una comune interferenza di taglio trasversale a quattro onde, con sensibilità di rilevamento superiore e anti- prestazioni di vibrazione e può realizzare interferometria dinamica in tempo reale e ad alta velocità senza isolamento delle vibrazioni. La misurazione in tempo reale mostra un frame rate superiore a 10 fotogrammi. Allo stesso tempo, il sensore FIS4 ha una risoluzione di fase ultraelevata di 512×512 (260.000 punti di fase), la banda di misurazione copre 200nm~15μm, la sensibilità di misurazione raggiunge 2nm e la ripetibilità di misurazione è migliore di 1/1000λ ( RMS). Può essere utilizzato per l'analisi della qualità del raggio laser, il rilevamento del campo di flusso del plasma, la misurazione in tempo reale della distribuzione del campo di flusso ad alta velocità, la valutazione della qualità dell'immagine del sistema ottico, la misurazione del profilo microscopico e l'imaging quantitativo della fase di cellule biologiche.
FIS4 Parametri tecnici di ciascuna serie di prodotti |
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Prodotto |
FIS4-UV |
FIS4-HR |
OROLOGIO FIS4 |
FIS4-HS |
FIS4-Cell |
FIS4-NIR |
Gamma di lunghezze d'onda |
200~450nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
400~1100nm |
900~1200 nm |
Dimensione obiettivo mm² |
13,3×13,3 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
10,24×10,24 |
7,07×7,07 |
13,3×13,3 |
Risoluzione spaziale |
26μm |
23,6μm |
26μm |
24,4μm |
23,6μm |
26μm |
Pixel dell'immagine |
- |
2048×2048 |
- |
- |
2048×2048 |
- |
Risoluzione dell'uscita di fase |
512×512 (262144 pixel) |
300×300(90000pixel) |
512×512(262144pixel) |
420×420(176400pixel) |
300×300(90000pixel) |
512×512(262144pixel) |
Risoluzione di fase |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
<2nmRMS |
Precisione assoluta |
10 nm RMS |
10 nm RMS |
15 nm RMS |
10 nm RMS |
10 nm RMS |
15 nm RMS |
Gamma dinamica |
90μm (256min) |
110μm (150 minuti) |
162μm (256min) |
132μm (210 minuti) |
110μm (150 minuti) |
270μm (256min) |
Frequenza di campionamento |
32 fps |
24 fps |
45 fps |
107 fps |
24 fps |
45 fps |
Velocità di elaborazione in tempo reale |
10Hz (Risoluzione completa) |
10Hz (Risoluzione completa) |
10Hz (Risoluzione completa) |
10Hz (Risoluzione completa) Supporta l'elaborazione batch ritardata |
10Hz (Risoluzione completa) |
10Hz (Risoluzione completa) |
Tipo di interfaccia |
USB3.0 |
TAGLIO |
USB3.0 |
TAGLIO |
TAGLIO |
USB3.0 |
Interfaccia esterna |
- |
- |
- |
- |
Porta C |
- |
Dimensioni mm² |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
56,5x43x41,5 |
56,5x43x41,5 |
70x46,5x68,5 |
peso |
circa240 g |
circa 120 g |
circa240 g |
circa 120 g |
circa 120 g |
circa240 g |
Indirizzo
N. 578 Yingkou Road, distretto di Yangpu, Shanghai, Cina
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