Bojiong (Shanghai) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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AOI1000 Rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici
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AOI1000 Rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici

In risposta alle esigenze di ispezione automatizzata di componenti di grande diametro, BOJIONG ha introdotto il rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI1000 per soddisfare le diverse esigenze di automazione dei clienti. Questo dispositivo è in grado di rilevare automaticamente, ad alta velocità e ad alta precisione wafer di silicio e wafer di zaffiro, affrontando in modo efficace i problemi di bassa efficienza e scarsa precisione associati all'ispezione visiva manuale. È adatto per il controllo di qualità dei difetti superficiali sugli schermi dei telefoni cellulari e sui display. Per qualsiasi domanda e problema, non esitate a contattarci via e-mail in qualsiasi momento e vi risponderemo il prima possibile.

Per componenti di test di grandi dimensioni come wafer di silicio e wafer di zaffiro, il rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI1000 offre una risoluzione di rilevamento fino a 0,5 micrometri e un'apertura di ispezione massima di 1.000 x 600 mm. Il dispositivo è in grado di generare automaticamente report, con formati di report che includono lo standard militare statunitense MIL-PRF-13830A/B e lo standard internazionale ISO 10110-7.

 

Specifica dell'articolo:


nome del prodotto

AOI1000 Rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici

Dimensione massima di rilevamento

1000 mmX600 mm

Risoluzione di rilevamento

0,5μm

Metodo di rilevamento

Imaging con scansione di array di campi scuri

Rapporti di output

Standard nazionali, standard militari statunitensi e report aziendali personalizzati.

 

Caratteristica del rilevatore di difetti superficiali del componente ottico BOJIONG AOI1000



Il rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI1000 utilizza la tecnologia di visione artificiale per ottenere il rilevamento automatizzato, ad alta velocità e ad alta precisione di difetti superficiali su componenti come wafer di silicio e wafer di zaffiro, affrontando efficacemente i problemi di bassa efficienza e scarsa precisione nell'ispezione visiva . La risoluzione di rilevamento più elevata può raggiungere 0,5 micrometri e l'apertura di rilevamento massima può raggiungere 1.000 x 600 mm. La tecnologia di imaging comprende l'illuminazione anulare e l'imaging in campo scuro a microdiffusione. Il dispositivo è in grado di generare automaticamente report in vari formati, tra cui lo standard militare statunitense MIL-PRF-13830A/B e lo standard internazionale ISO 10110-7.


Campi di applicazione del rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI1000




Adatto per il controllo di qualità di difetti superficiali in componenti ottici, wafer per finestre ottiche, wafer di silicio, wafer di zaffiro, ecc.

Difetti del rivestimento: delaminazione, danneggiamento del rivestimento, ecc.

Difetti di lucidatura: graffi, cavità, scheggiature, bolle, sporco, ecc.

Questa apparecchiatura è in grado di gestire i seguenti tipi di difetti:


◆ Illuminazione anulare multifascio

◆ Imaging a ingrandimento variabile con opzioni di ingrandimento alto e basso

◆ Precisione di rilevamento di 0,5 μm

◆ Rilevamento multi-wafer su piastra intera

◆ Motore lineare per imaging rapido

◆ Dotato di FFU (Fan Filter Unit) per garantire la pulizia interna


Illuminazione di imaging anulare multiraggio



Microscopio con zoom automatico da 1X a 8X.


Bloccaggio rapido regolabile per tutta la piastra.


I motori lineari 2D ad alta precisione garantiscono la precisione delle riprese rapide.


Software di ispezione intelligente AOI




Output di fogli di calcolo standard militari


Visualizzazione dei risultati del test


Graffio sulla superficie del rivestimento.

 

Graffi

 

Punto del danno laser 1

Punto del danno laser 2

 

Punto di particolato su scala nanometrica

 

Fibra

 

Deliquescenza dei componenti

 

danno allo strato di membrana


Parametro del rilevatore di difetti superficiali del componente ottico AOI1000

 

Rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI450Rilevatore di difetti superficiali di componenti ottici AOI1000

Articolo

Descrizione

Modello

AOI1000

Funzione dell'attrezzatura

Rilevamento quantitativo dei difetti per componenti ottici planari con superficie ultra liscia e output di report elettronici in base ai risultati del rilevamento come standard militare statunitense, standard nazionale e standard internazionale.

Dimensione massima di rilevamento

1000 mmX600 mm

Precisione di rilevamento

Basso ingrandimento 5μm, alto ingrandimento 0,5μm

Metodo di bloccaggio

Bloccaggio di piastre intere o bloccaggio di pezzi singoli, supporto del bloccaggio di pezzi quadrati e rotondi.

Metodo di livellamento

Messa a fuoco automatica assistita dall'intero materiale della piastra, livellamento elettrico.

Metodo di imaging

Illuminazione anulare, imaging in campo scuro a microdispersione, in conformità con il "Metodo di rilevamento quantitativo per difetti superficiali di componenti ottici - Metodo di imaging in campo scuro a microdispersione" descritto nello standard nazionale GB/T 41805-2022.

Metodo di rilevamento

Cucitura di scansione a basso ingrandimento, quantificazione del posizionamento ad alto ingrandimento.

Meccanismo di scansione

Motore lineare 2D, corsa 150 mm × 150 mm.

Parametri della fotocamera

Fotocamera target di grandi dimensioni, 5 milioni di pixel.

Formato del rapporto

Excel, formato Word, standard militare statunitense, standard nazionale, standard internazionale o report statistico aziendale.

Configurazione PC industriale

Processore i7, memoria da 32 GB, disco rigido da 1 T, memoria video da 6 GB.

Dimensioni dell'attrezzatura

900 mm × 800 mm × 2000 mm (L × L × A)

Tensione di alimentazione

220 V ± 10%

 

 

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